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白光3D輪廓測量儀適配芯片制造生產線，助力半導體行業發展
2022-12-19 近年來，面對持續高漲的芯片需求，半導體行業生產迎來了高難度挑戰——對芯片工藝要求更精細，從5nm到3nm，甚至是2nm?！跋冗M封裝”的提出，是對技術的新要求，也是對封裝工藝中材料和設備的全新考驗。芯片身上布控著幾千萬根晶體管，而晶體管越小，可放置的晶體管越多，性能也將越高。芯片的進化就是晶體管變小的過程。晶體管密度更大、占用空間更少、性能更高、功率更低，但挑戰也越來越難以克服。小尺寸下，芯片物理瓶頸越來越難以克服。尤其在近幾年，先進節點走向10nm、7nm、5nm.........
數控機床檢測技術之激光干涉儀角度測量
2022-12-12 目前，在幾何量測量中最重要的激光技術是用廣電轉換條紋計數等方法來測量長度，這種方法具有精度高、速度快、量程大、始于非接觸測量及自動測量等優點?；诩す飧缮鎯x技術的精密角度測量系統，通過角度轉換裝置將角度量轉換為可以反映干涉光路中光程差變化的線性位移量，由此引起干涉條紋的變化，再通過相應電路對干涉條紋進行一系列處理，從而實現了對大轉角的精密測量。具有結構簡單、誤差恒定、測量精度高、測角范圍大、易于數字化等特點。激光干涉儀利用激光作為長度基準，可以對數控設備（加工中心、三坐標測量...
白光干涉儀是啥呢
2022-12-12 一、干涉儀是一種對光在兩個不同表面反射后形成的干涉條紋進行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學元件形成參考光路和檢測光路。二、工作原理：(1)干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。(2)測量精度決定于測量光程差的精度，干涉條紋每移動...
光柵測長機其主要的特性分別有哪些呢？
2022-11-27 光柵測長機采用進口高精度光柵測量系統、進口超高精密研磨導軌、雙向可切換恒測力系統、高性能計算機控制系統技術，實現各種長度參數的高精度測量。通過超精密研磨導軌保證測量行走的高穩定性及直線度，采用進口高精度光柵測量系統記錄接觸測量中長度方向坐標，由計算機將數據測力裝置、溫度傳感器的反饋數據進行合成，按被測件參數的相關定義及公式進行分析，計算獲得相關長度參數。該產品具有精度高、功能強、操作簡潔、智能等優點，能夠檢定精密量具、精密量規，如塊規、光滑環塞規、卡規、螺紋塞規、花鍵規。還可...
三坐標測量機導軌和工作臺介紹
2022-11-25 三坐標測量機可以代替多種表面測量工具及昂貴的組合量規，能夠對各種零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關系進行檢測，也可以對軟材質或復雜零件進行光學掃描測量。它是在三維空間上通過采集點的三維坐標來評定物體幾何形狀，是集光、電、氣、機械與計算機技術為一體的自動化坐標測量儀器，也是制造業中的重要檢測設備。一、工作臺花崗巖具有變形小、穩定性好、耐磨損、不生銹，且價格低廉、易于加工的特點。Mars系列三坐標測量機采用花崗巖來制造固定式的工作臺，使機器具有承載能力強、裝卸空間寬闊、便捷的優點...
三坐標測量機測頭系統是什么
2022-11-25 測頭系統是三坐標測量機的數據采集傳感器系統，是三坐標測量機的關鍵部件，測頭精度的高低決定了坐標測量機的測量重復性。三坐標測量機的功能、工作效率、精度與測頭密切相關。在對工件進行測量時，三坐標測量機能夠根據測頭系統探測工件，返回工件表面的點數據，通過三坐標的軟件系統計算各類幾何形狀、尺寸等。測頭的分類按結構原理，測頭可分為機械式、光學式和電氣式。按測量方法，測頭可分為接觸式和非接觸式。測頭系統的組成測頭系統包括分度測座、測頭及其附件，其附件包括測桿、加長桿和探針。1、測座Pan...
發動機葉片曲面檢測工具|白光干涉儀五軸全自動測量
2022-11-23 葉片作為發動機的核心部件，制造工藝復雜，科技含量高，在研發過程中遇到的難題很多?？梢哉f發動機的性能很大程度上取決于葉片型面的設計和制造水平。其中航空發動機葉片是典型的自由曲面零件，它的曲線形狀、制造精度和質量直接決定了發動機的推進效率大小和安全。一個發動機上有很多葉片，每一個圓盤上大概有30多個葉片，如果葉片的形狀和尺寸不能夠保證，那么在發動機高速運轉時是非常危險的。所以對于葉片的型面和幾何尺寸檢測也是非常重要的，但是就葉片的形狀來說常規測量方法很難進行測量。白光干涉儀作為一...
沒想到形貌儀竟然有如此之多的特性
2022-11-22 形貌儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器?？蓮V泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、科研院所等領域中?？蓽y各類...

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